Kwaliteitsborging

Om ervoor te zorgen dat deze precisieapparaten ook nog na verloop van tijd goed functioneren, moet de kwaliteit tijdens de productie gewaarborgd worden. Een koper kan namelijk gemakkelijk een batch van duizenden diodes afwijzen als slechts een enkel gebrek gevonden wordt in een monster.

De behoeften aan moderne telecommunicatie en elektronische producten zorgen voor een zeer grote verscheidenheid van productieuitdagingen waar producenten en technici waakzaam voor moeten zijn. Onvolkomenheden in kristalgroei, coating inconsistenties, deeltjes contaminatie, overspray en edge-chips zijn slechts enkele van deze gemeenschappelijke fouten die kunnen resulteren in miljoenen verloren apparaten, vertraging in de productie en in het ergste geval het verliezen van klanten.

Om deze valkuilen te vermijden is het noodzakelijk om materiaaloppervlakken te kunnen inspecteren. Hierbij wordt dan gekeken naar de verschillende functies van het apparaat dat de operationele parameters kan beïnvloeden. Methoden die gebruikt worden in de halfgeleider en micro- elektronische-industrie zijn onder andere:

• handmatige metrologie en speckle metrologie
• optische interferometrie
• secundaire analyse
• stereomicroscopie
• holografische interferometrie en omgekeerde lichtmicroscopie

De belangrijkste technieken en instrumenten zijn: stereomicroscopie, doorlicht en reflecterende microscopie, omkeermicroscopie, video meetsystemen en digitale camera’s.